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- 低轨道航空器辐射环境和表面充电效应研究
- 作者： 师立勤 来源： 中国科学技术大学 年份： 2016 文献类型 ： 学位论文 关键词： 低轨道 辐射带 高能质子 表面充电 电流泄漏
- 描述： 大于10keV以上的电子通量小于108 cm?2s?1sr?1时,很难发生表面高充电;背景电离层等离子体会制约表面充电,其密度越高,航天器表面充电电位越低,密度高于一定限度时,不会发生表面高充电。另外,光照