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根据【关键词:
SW,单粒子翻转,AFDX,反推未锁故障
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关键词
民用飞机
单粒子翻转
问题研究
作者：
唐志帅
王延刚
刘兴华
来源：
电气自动化
年份：
2018
文献类型 ：
期刊
关键词：
专用集成电路器件
现场可编程门阵列
单粒子翻转
复杂电子硬件
三模冗余
描述：
单粒子翻转
(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝
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