民用飞机单粒子翻转问题研究

【类型】期刊

【作者】唐志帅 王延刚 刘兴华  

【刊名】电气自动化

【关键词】 专用集成电路器件,现场可编程门阵列,单粒子翻转,复杂电子硬件,三模冗余

【摘要】单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。

【年份】2018

【作者单位】上海飞机设计研究院;

【期号】06

【页码】32-33+54

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