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- 航空电子设备可靠性试验通用自动测试系统研究
- 作者： 李毅 来源： 北京航空航天大学 年份： 2016 文献类型 ： 学位论文 关键词： 数据压缩 COM VXI 自动测试系统 组件
- 描述： 为了满足航空电子设备在可靠性试验中的测试需求，更有效地完成可靠性试验，本实验室需要开发一套应用于航空电子设备可靠性试验的通用自动测试系统。论文提出了适用于本项目的通用自动测试系统的整体框架，介绍了自动测试系统的硬件组成，并讨论了控制器的选择与配置、开关系统的设计、信号接口装置设计以及VXI机箱的选择等问题。在软件结构方面，提出了通用自动测试系统软件平台的层次结构，并且根据此结构在Labwindows/CVI环境下开发了自动测试软件。论文对此自动测试软件按照层次进行了说明。在COM组件技术方面，在Visual C++.NET环境下开发了用于测试的COM组件。论文以此为例具体阐述了组件接口的定义、接口函数的实现、组件的注册以及组件的接口函数在程序中的调用方法等技术。而且，通过实例验证了组件技术在仪器互换性中的应用。在实时无损数据压缩技术的研究中，对自适应霍夫曼编码、自适应算术编码以及LZW编码这三种算法进行了介绍，叙述了编程中出现的问题及其解决途径。并且对三种算法进行了分析比较，确定LZW作为测试中的实用算法，在自动测试软件中得到了实际的应用。