按文献类别分组
按栏目分组
按年份分组
按来源分组
关键词
民用飞机单粒子翻转问题研究
作者: 唐志帅   王延刚   刘兴华   来源: 电气自动化 年份: 2018 文献类型 : 期刊 关键词: 专用集成电路器件   现场可编程门阵列   单粒子翻转   复杂电子硬件   三模冗余  
描述: 单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。
< 1
Rss订阅