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民用飞机单粒子翻转问题研究
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作者：
唐志帅
王延刚
刘兴华
来源：
电气自动化
年份：
2018
文献类型 ：
期刊
关键词：
专用集成电路器件
现场可编程门阵列
单粒子翻转
复杂电子硬件
三模冗余
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描述：
单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。
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民用飞机单粒子翻转问题研究
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作者：
唐志帅
王延刚
刘兴华
来源：
电气自动化
年份：
2018
文献类型 ：
期刊
关键词：
专用集成电路器件
现场可编程门阵列
单粒子翻转
复杂电子硬件
三模冗余
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描述：
单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。