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关键词
航空高度FPGA单粒子翻转飞行实验及
失效
分析
作者：
薛茜男
张道阳
李颖
芦浩
王鹏
来源：
强激光与粒子束
年份：
2016
文献类型 ：
期刊
关键词：
单粒子翻转 机载电子 抗辐射 飞行实验 失效分析
描述：
满足民用航空的需求。大量数据的分析结果证明,以当下主流FPGA芯片的工艺尺寸、工作电压的条件,单粒子翻转效应是一个不容忽视的问题。即便是航空飞行高度甚至是地面高度,FPGA芯片因单粒子翻转导致
失效
也是无法满足民用航空设备的安全性要求。
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